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Surface analysis

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技術評価部 表面分析イメージ画像技術評価部 表面分析イメージ画像

新規探索、トラブル原因調査などの為に、研究開発、製造などDOWAグループからよせられる原料、工程中間品、製品、材料や設備に至るまでの多種多様なサンプルを調査目的に応じて加工し、電子顕微鏡、X線光電子分光分析装置、オージェ電子分光装置などの装置を使ってミクロン~ナノレベル領域の観察や状態、組成分析を行っています。

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分析法の決定
分析法の決定
分析法の決定
分析法の決定
分析法の決定
分析法の決定

定常的な依頼よりも、開発に関する新規探索、種々のトラブル解析などの非定常依頼がメインの為、依頼側のニーズを確実に把握することが重要です。その為、分析前に依頼背景と必要情報を確実に把握し、その後要求を満足する分析装置を決定します。状況により公共機関の分析装置を検討するなど、幅広い視点を持ってニーズを満たせる手段を検討します。

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前処理技術
前処理技術
前処理技術
前処理技術
前処理技術
前処理技術

表面分析において、測定用サンプル作成は非常に重要です。電子顕微鏡による観察や、その他組成、結晶状態等の分析をする上で、極微小化、薄膜化、平滑化などを市販装置の条件最適化と、さらにノウハウの蓄積された手作業を駆使し、必要情報が得られる完成度の高いサンプルを作成しています。世の中の技術情報も常にウォッチングし、必要に応じた技術導入も検討し、レベル向上に努めています。

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測定・報告
測定・報告
測定・報告
測定・報告
測定・報告
測定・報告

透過型、走査型電子顕微鏡、X線光電子分光分析装置、オージェ電子分光装置など、目的に応じた表面分析装置を使用します。また最近の依頼部署の要求レベル向上に伴い、透過型電子顕微鏡を更新し、ナノ材料の2D、3D観察や従来より感度を向上させた組成分析、極微量添加物の状態把握などの要求に応えます。分析終了後は依頼者と結果について議論し、必要に応じたフォローを行っています。